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深圳市威福光电科技有限公司

色差仪, 光泽度仪, 涂层测厚仪

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FRU/威福诚招代理商 WH82双基涂层测厚仪诚招代理商 涂层测厚仪诚招代理商 测厚仪诚招代理商 膜厚仪诚招代理商 漆膜测厚仪诚招代理商
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产品: 浏览次数:79FRU/威福诚招代理商 WH82双基涂层测厚仪诚招代理商 涂层测厚仪诚招代理商 测厚仪诚招代理商 膜厚仪诚招代理商 漆膜测厚仪诚招代理商 
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有效期至: 长期有效
最后更新: 2026-08-08 20:47
详细信息

“FRU/威福诚招代理商 WH82双基涂层测厚仪诚招代理商 涂层测厚仪诚招代理商 测厚仪诚招代理商 膜厚仪诚招代理商 漆膜测厚仪诚招代理商”参数说明

是否有现货: 是 类别: 磁性方法 涡流方法
品牌: FRU/威福 测量产品: 薄膜
显示方式: 数字显示 型号: WH82
规格: 便携式 商标: FRU
包装: 30*25*11CM 产量: 999

“FRU/威福诚招代理商 WH82双基涂层测厚仪诚招代理商 涂层测厚仪诚招代理商 测厚仪诚招代理商 膜厚仪诚招代理商 漆膜测厚仪诚招代理商”详细介绍

WH82双基涂层测厚仪是一种便携式双基(铁、铝)测量仪,它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室中的精密测量,也可用于工程现场广泛地应用在金属制造业、化工业、航空航天、科研开发等领域,是企业保证产品质量、商检测控、必不可少的检测仪器。

WH82双基涂层测厚仪的技术参数

测量范围 0-1250um
工作电源 两节 5 号电池
测量精度误差 零点校准 ±(1+3%H);二点校准±【(1%~3%H)】H+1.5
环境温度 0-40℃
相对湿度 ≤85%
最小基体 10*10mm
最小曲率 凸:5mm;凹 :5mm
最薄基体 0.4mm
重量 115 克(含电池)
尺寸 110mm*65mm*30mm

WH82双基涂层测厚仪符合以下标准

GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法

GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法

JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪

JJG 889─95 《磁阻法测厚仪》

JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》

WH82双基涂层测厚仪的产品特点

采用了磁性和涡流两种测厚方法,即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度;可采用单点校准和两点校准两种方法对仪器进行校准,并可用基本校准法对测量头的系统误差进行修正,保证仪器在测量过程中仪器的准确性;能快速自动识别铁基体与非铁基体具有电源欠压指示功能操作过程有蜂鸣声提示;设有两种关机方式:手动关机方式和自动关机方式;有负数显示功能,保证仪器在零位点的校准准确性;有显示平均值、最大值、最小值功能[*]

WH82双基涂层测厚仪的测量原理

采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、 油漆等)及非磁性金属基体(如铜、 铝、 锌、 锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。

a) 磁性法(F 型测量头)

当测量头与覆盖层接触时,测量头和磁性金属基体构成一闭合磁路,由于非磁性覆盖层的存在,使磁路磁阻变化,通过测量其变化可导出覆盖层的厚度。

b) 涡流法(N 型测量头)

利用高频交变电流在线圈中产生一个电磁场,当测量头与覆盖层接触时,金属基体上产生电涡流,并对测量头中的线圈产生反馈作用,通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。

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测量范围 0-1250um
工作电源 两节 5 号电池
测量精度误差 零点校准 ±(1+3%H);二点校准±【(1%~3%H)】H+1.5
环境温度 0-40℃
相对湿度 ≤85%
最小基体 10*10mm
最小曲率 凸:5mm;凹 :5mm
最薄基体 0.4mm
重量 115 克(含电池)
尺寸 110mm*65mm*30mm