点击图片查看原图“VIEW Pinnacle 250影像测量仪”参数说明
| 是否有现货： | 否 | 品牌： | QVI/VIEW |
| 加工定制： | 否 | 操作方式： | 程序控制 |
| 分辨率： | 0.1 μm | 测量行程： | 250 X 150 X 100mm |
| 放大倍率： | 10-2000 | 测量精度： | (1.0+5L/1000) μm |
| 外形尺寸： | 803 X 877 X 1800 mm（ | 型号： | VIEW Pinnacle 250 |
| 规格： | VIEW Pinnacle 250 | 商标： | QVI/VIEW |
| 包装： | QVI/VIEW | 负载： | 25kg |
| 产量： | 100 |
“VIEW Pinnacle 250影像测量仪”详细介绍
高产出、高精度尺寸测量系统VIEWPinnacle250影像测量仪有着非凡的精度和生产率，优异的MTBF性能，以及在同类型自动测量系统中最低的购置成本。其独特的可编程多色环形灯(PRL)选项运用红、绿、蓝、白LED照明，可轻松应对最苛刻的应用。最新型的直性运动控制技术造就了运行速度最快、最为可靠的免维护平台，满足从无尘室到工厂车间的生产环境中，大容量、高性能的操作。可选的软件包增强系统的通用性：lCAD导入(DXF/IGES)软件l形状拟合和分析软件l离线编程软件lQC-Calc™StatisticalProcessControl(SPC)—实时分析和报告软件Elements™CADToMeasure测量软件特征：-测量范围：250x150x100mm-25公斤承载力-亚微米的光栅尺分辨率-X-Y无阻力线性马达驱动，平台速度400mm/秒-Z轴DC伺服回转马达驱动，100mm/秒-误差映射：在XY平面非线性二维纠错-双重放大光学系统，固定镜头，内部放大1-4倍-可编程LED平台背光及同轴表面光照明-可编程多色环形灯(PRL)选项-TTL激光选项，具有自动聚焦和扫描功能-SpectraProbeTM高分辨率彩色传感器选项-先进的图像处理性能，快速、精确、稳健-双通道，数字式，1.4兆像素的单色相机;4:1的比例-次像素精度：1/10-1/50pixel-独立的AnthroCartOperator工作站-强大的测量软件和数据分析工具可供选择-平均无故障工作时间MTBF≥8,000小时Pinnacle的应用范围包括：半导体/电子：BGA,μBGA,CSP,倒装芯片,MCM,bump-on-die引线框，引线接合，柔性线路板，连接器SMT元件贴装，锡膏/环氧数脂胶点，芯片载体和托盒，喷墨打印机墨盒，光纤组件和MEMs数据存储：悬置件滑块和悬臂组，(HGA)磁盘介质基板精密注塑和机加工件：模具和刀具，医疗设备，燃料喷射部件，手表组件Pinnacle250全自动非接触式影像测量仪是一款高速度、高精度的光学非接触式三维坐标影像测量仪，适用于工艺过程控制测量和质检检测应用。Pinnacle250全自动非接触影像测量仪适用范围：◆Flipchip、BGQ、QFP、QFN、MCM等先进封装间距、线宽、角度、弧度、高度等尺寸测量◆SMT组装装配、PCB&FPCB挠性电路等关键尺寸测量◆丝网印刷的孔径、位置、厚度、角度等测量◆Bumpondie、SolderPaste、光纤关键尺寸测量◆IC&LED封装引线架Leadframes、探针卡角度、间距、高度等测量◆LEDSMD封装测量，包括胶高、间距等测量◆PhotoMask、MEMS晶圆级检测、关键尺寸测量等应用Pinnacle250非常适用于对测量精度有很高要求的应用场合。如微电子组装、装配、精密冲压模具以及芯片封装等。